특허등록 - 초분광 이미징 분광색채휘도 측정 장치
(2025.08.28)

2025년 8월 28일 초분광 이미징 분광색채휘도 측정 장치에 대한 지식재산권(특허등록)을 확보하였습니다. 이에 대한 지식재산권은 포괄적으로 에스텍이 제작하는 차세대 디스플레이발광 소자의 광 특성 평가를 위한 초분광 이미징 시스템에 대한 PGP 투과형 회절격자 구조의 라인분광기, 이미징 분광복사휘도 장치, 고해상도 이미징 카메라와 결합된 측정 시스템 등의 제품에 대한 구조 및 방법에 대한 권리가 포함되어 있습니다.

• 발명의 명칭: 고해상도 이미징 카메라와 초분광 이미징 분광복사휘도계가 결합된 이미징 분광색채휘도 측정 장치 (Apparatus and method for measuring spectrochromatic luminance imaging combined with high-resolution imaging camera and hyperspectral imaging spectroradiometer)

• 출원번호: 10-2023-0033793

• 출원일: 2023년 03월 15일

• 등록번호: 10-2853468

• 등록일: 2025년 08월 28일

• 요약: 본 발명은 암실내에서 외부 PC(550)의 제어에 따라 발광시료(510)의 이미징 분광색채휘도를 측정을 하는, 이미징 분광색채휘도 측정 장치에 관한 것으로서, 상기 발광 시료(510)를 장착하고 원하는 위치로 이동이 가능한 스테이지(520); 상기 발광시료(510)에 광을 조사하기 위한 LED 광원 조사부(410); 상기 발광시료(510)의 이미지를 입력받는 제2 텔레센트릭 렌즈(240); 상기 제2 텔레센트릭 렌즈(240)의 출력을 투과하거나 차단하는 셔터(230); 상기 셔터(230)를 통과해 입력되는 이미지를 분광하는 PGP 투과형 라인분광기(220); 상기 라인 분광기(220)를 통과한 이미지를 촬영하는 제2 CCD 카메라(210)를 포함한다. 본 발명의 실시예에서는, 초분광 이미징 기술을 이용하여 2D 이미징 정보와 분광 정보를 동시에 취득하고 분광복사휘도계의 데이터를 2D 이미징 데이터에 보정 및 매핑함으로써 빠르고 정확하게 휘도 및 색좌표 분포를 측정 가능하다.