LBIC (Light Beam Induced Current) Test System, ST-LBIC100
- stech43
- 7월 9일
- 2분 분량
최종 수정일: 7월 21일
광선 유도 전류 이미징 측정 시스템
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LBIC (Light Beam Induced Current) 측정 시스템은 태양전지, 반도체 소자 등에서 빛에 의해 유도되는 전류를 측정하여 결함 위치나 특성을 분석하는 데 사용되는 시스템입니다. 태양 전지에 레이저 빔을 조사하여 전류를 측정하는 방식으로 작동합니다. 재결합 결함이 많은 위치에서 전류가 더 높으므로, 태양 전지 전체에 레이저 빔을 스캐닝하여 결함 밀도 지도를 생성할 수 있습니다. 405nm, 532nm 파장 등의 선택된 레이저를 사용하여 태양 전지의 재결합 활성 결함의 공간 분포를 측정합니다. 파장이 서로 다르기 때문에 태양 전지 내부의 다양한 깊이를 탐사할 수 있으며, 이를 통해 각 층에 위치한 결함을 식별하는 데 도움이 됩니다.
<주요 기능>
- 결함 분석: 태양전지나 반도체 소자에서 발생하는 크랙, 전극 불량, 암영역 등 결함 검출 분석 - 성능 평가: 소자의 광전류 특성을 분석하여 효율, 균일도 등을 평가하고, 성능 저하 원인 파악
- 재료 연구: 반도체 재료의 특성 연구 및 개발 활용 - 품질 관리: 생산 라인에서 소자 품질을 검사하고 관리하는 데 사용
- 이미징 기술: LBIC 측정 결과를 이미지화하여 결함 위치나 광전류 분포를 시각적으로 파악 - 응용 분야: 페로브스카이트 태양전지, OLED 등 다양한 광전 소자에 적용 가능
<주요 사양>
- 암실 사이즈: 700mm(W) x 750mm(L) x 810mm(H)
- 테스트 셀 크기: 160mm x 160mm 이하
- 레이저 타입: 다이오드 레이저, 405nm, 1~180mW 가변 파워, 광 파이버 형태로 출력 가능
- 3축(XYZ) Motorized Positioner, XYZ축 해상도 100um 이내
- XYZ Scanning 속도 및 이동 제어, 시편 표면에 대한 LBIC 정보 이미지화
<태양전지의 광선 유도 전류(LBIC) 이미징 측정 사례>

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