Imaging Spectroradiometer Test System, ST-HS100

​초분광 이미징 분광복사휘도 측정 시스템

<제품 사진>

ST-HS100 이미징 분광복사휘도 측정 시스템

[ 판매가: 견적 문의 ]

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초분광 이미징(Hyperspectral Imaging, HSI) 기술은 공간 (Spatial) 정보+분광(Spectral) 정보를 동시에 획득하는 기술입니다. 전량 고가의 해외 제품을 수입하여 사용하고 있는 초분광 이미징 측정 장비의 국산화 개발하여 마이크로LED, OLED 디스플레이 발광 소자의 광 특성을 정확하게 측정, 분석하기 위한 초분광 영상 기술을 이용하여 2차원적인 영상 정보와 분광 정보를 동시에 측정하여 공간 위치 분포에 따른 휘도 및 색좌표, 스펙트럼 정보 등의 광학적 특성을 측정, 분석하는 이미징 분광복사휘도계(Imaging Spectroradiometer)을 기술 개발하였습니다.

잉크젯 프린팅 공정의 OLED 소자 평가와 마이크로LED의 에피웨이퍼 및 전사후 PL 결함 측정 검사에 대면 분포 단위로 스펙트럼의 변화를 측정하는데 종래의 장비의 측정 한계가 있어 이를 해결하는 기술을 요구, 증가되고 있는 실정입니다.

본 제품은 디스플레이 소자의 정확한 휘도 및 색좌표 분포 데이터를 측정하고자 초분광 이미징 기술을 이용하여 2D 이미징 정보와 분광 정보를 동시에 취득할 수 있습니다.

<적용 분야>

- OLED, MicoLED, QLED 등 차세대 디스플레이 발광 소자의 휘도 및 색좌표, 스펙트럼 데이터 2D 분포 측정 및 평가할 수 있음. - 초분광 영상기술 기반 분광복사휘도계를 이용하여 실시간으로 CCD 기반의 영상 이미지 정보를 보정하므로 정확하고 빠르게 휘도 및 색좌표 분포를 측정 평가할 수 있음 - 발광 소자의 장시간 수명 측정시 혼합된 각각의 발광 재료에 의한 스펙트럼 분포 변화를 측정 분석하여 발광 재료의 열화 인자 특성, 평가를 정확하게 평가할 수 있음.

​<주요 사양>

- 초분광 영상기술 기반 이미징 분광복사휘도 측정 장비 국산화

- OLED, QLED, uLED 디스플레이 발광 소자의 광 특성 평가

- 휘도 및 색좌표 2D 분포, 공간별 스펙트럼 측정 가능

- 파장 측정 범위(Spectral range) : 380~780 nm (VIS 영역)

- 파장 분해능(Spectral resolution) : 1 nm/pixel - 공간 분해능(Spatial pixel number) : 1040 pixel

- 휘도 측정 범위(Luminance range) : 0.1~100,000 cd/m2

- 휘도 측정 정확도(Luminance Accuracy) : ≤ ±3 %

- 색좌표 측정 정확도(Chromaticity Accuracy) : ≤ ±0.005

- 측정 구간 : 9 - Point (3x3 array) - 측정 속도 : ≤ 100 sec

ST-HS100 이미징 분광복사휘도 측정 시스템의 소프트웨어 화면

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